HED-N5000-DCPC

最大8デバイスのテストが可能です。最大試験ピン数1024 Pin

一定の制限はありますが、複数同時に印加することができます

日本、国際規格を満たす高信頼性デバイスである

（JEITA/ESDA/JEDEC規格を満たす）ラッチ試験に使用でき、パルス電流法・電源過電圧・ESD印加法を適用できる

DCテストでpass/failを判断することもでき、追加可能なオプションとしてベクトルを利用して機能テストを行うこともできます

HCE-5000

試験操作が簡単な携帯型静電放電試験装置

漏洩試験機能に対応しており、本装置単独でESDの破壊判断を行うことができる

HPE-5000

本装置は半導体装置の静電破壊強度を試験する装置である

携帯型小型ESD試験機のシリーズモデルとして、より軽く、より小さく、より低コスト

当社の従来の小型ESD試験機と同様に、2本の脚間の静電印加に特化し、汎用機器と同等の基本性能を維持するために使用されている（ESD印加とリーク電流試験を用いてpass/failを判断する）

HED-S5000R

pass/failはカーブグラフを接続することで簡単に判断できます

試験ピン数および試験用途に応じた型番選択が可能